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Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry: Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy - Gutierrez, José A. Armstrong, Brian S.R.
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Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry: Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy - edizione con copertina flessibile

2010, ISBN: 9781849966740

Springer, Paperback, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008, 173 Seiten, Publiziert: 2010-12-10T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, 0.28 kg, Computer Vision & Pattern Recognitio… Altro …

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Gutierrez, José A. A.:

Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry: Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy - edizione con copertina flessibile

2010, ISBN: 9781849966740

Mitwirkende: Armstrong, Brian S.R. Springer, Taschenbuch, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008, 176 Seiten, Publiziert: 2010-10-13T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, 0.61 kg,… Altro …

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Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy - Armstrong, Brian S. R.; Gutierrez, José A.
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Armstrong, Brian S. R.; Gutierrez, José A.:
Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy - edizione con copertina flessibile

2010

ISBN: 1849966745

edizione con copertina rigida

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 Kartoniert / Broschiert Bildgebende Verfahren, Wahrscheinlichkeitsrechnung und Statistik, Geographische Informationssysteme (GIS) und Fernerk… Altro …

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Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry: Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy - edizione con copertina flessibile

2010, ISBN: 1849966745

[EAN: 9781849966740], Gebraucht, wie neu, [PU: Springer], Like New, Books

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ISBN: 9781849966740

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Dati bibliografici del miglior libro corrispondente

Dettagli del libro
Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry: Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy

This book addresses the problem of measurement error associated with determining the location of landmarks in images. The least possible photogrammetric uncertainty in a given situation is determined using the Cramér-Rao Lower Bound (CRLB).The monograph provides the reader with: the most complete treatment to date of precision landmark location and the engineering aspects of image capture and processing; detailed theoretical treatment of the CRLB, and more.

Informazioni dettagliate del libro - Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry: Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy


EAN (ISBN-13): 9781849966740
ISBN (ISBN-10): 1849966745
Copertina rigida
Copertina flessibile
Anno di pubblicazione: 2010
Editore: Springer
176 Pagine
Peso: 0,275 kg
Lingua: eng/Englisch

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ISBN/EAN: 1849966745

ISBN - Stili di scrittura alternativi:
1-84996-674-5, 978-1-84996-674-0
Stili di scrittura alternativi e concetti di ricerca simili:
Autore del libro : gutierrez, armstrong
Titolo del libro: vision precision, landmark, photogramme, location, armstrong, machine vision


Dati dell'editore

Autore: José A. Gutierrez; Brian S.R. Armstrong
Titolo: Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry - Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy
Editore: Springer; Springer London
162 Pagine
Anno di pubblicazione: 2010-10-13
London; GB
Stampato / Fatto in
Peso: 0,278 kg
Lingua: Inglese
106,99 € (DE)
109,99 € (AT)
118,00 CHF (CH)
POD
XI, 162 p.

BC; Image Processing and Computer Vision; Hardcover, Softcover / Informatik, EDV/Anwendungs-Software; Maschinelles Sehen, Bildverstehen; Verstehen; LED; MATLAB; Performance; algorithms; image processing; navigation; robot; statistics; remote sensing/photogrammetry; Control, Robotics, Mechatronics; Remote Sensing/Photogrammetry; Signal, Image and Speech Processing; Imaging / Radiology; Statistics for Engineering, Physics, Computer Science, Chemistry and Earth Sciences; Computer Vision; Control, Robotics, Automation; Geographical Information System; Signal, Speech and Image Processing; Radiology; Statistics in Engineering, Physics, Computer Science, Chemistry and Earth Sciences; Regelungstechnik; Geographische Informationssysteme (GIS) und Fernerkundung; Elektronik; Digitale Signalverarbeitung (DSP); Bildgebende Verfahren; Wahrscheinlichkeitsrechnung und Statistik; BB

Physics of Digital Image Formation.- Analytic Framework for Landmark Location Uncertainty.- Model-based Landmark Location Estimators.- Two-dimensional Noncollocated Numerical Integration.- Computational Tools.- Experimental Validation.- Studies of Landmark Location Uncertainty.- Conclusions.

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