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Imperial College Press, Hardcover, 304 Seiten, Publiziert: 2000-12-13T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, 0.57 kg, Books Global Store, Special Features, Books, Physical Chemistry, Chemistry, … Altro …

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Dati bibliografici del miglior libro corrispondente

Dettagli del libro
X-ray Scattering From Semiconductors
Autore:
Titolo:
ISBN:

1860941591


X-ray scattering is used extensively to provide detailed structural information about materials. Semiconductors have benefited from X-ray scattering techniques as an essential feedback method for crystal growth, including compositional and thickness determination of thin layers. The methods have been developed to reveal very detailed structural information concerning material quality, interface structure, relaxation, defects, surface damage, etc.This book provides a thorough description of the techniques involved in obtaining that information, including X-ray diffractometers and their associated instrument functions, data collection methods, and the simulation of the diffraction patterns observed. Also presented are examples and procedures for interpreting the data to build a picture of the sample, much of which will be common to materials other than semiconductors.

Informazioni dettagliate del libro - X-ray Scattering From Semiconductors


EAN (ISBN-13): 9781860941597
ISBN (ISBN-10): 1860941591
Copertina rigida
Anno di pubblicazione: 2001
Editore: Imperial College Press
287 Pagine
Peso: 0,567 kg
Lingua: eng/Englisch

Libro nella banca dati dal 2007-10-29T16:42:13+01:00 (Rome)
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ISBN/EAN: 1860941591

ISBN - Stili di scrittura alternativi:
1-86094-159-1, 978-1-86094-159-7
Stili di scrittura alternativi e concetti di ricerca simili:
Titolo del libro: ray scattering from semiconductors

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