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Progress in Transmission Electron Microscopy 2 : Applications in Materials Science - Ze Zhang
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Progress in Transmission Electron Microscopy 2 : Applications in Materials Science - edizione con copertina flessibile

2010, ISBN: 3642087183

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Progress in Transmission Electron Microscopy 2 - Ze Zhang
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Progress in Transmission Electron Microscopy 2 - edizione con copertina flessibile

2010, ISBN: 3642087183

[EAN: 9783642087189], Neubuch, [PU: Springer Berlin Heidelberg Okt 2010], This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Transmission electron microscopy (TEM) is no… Altro …

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Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science Xiao-Feng Zhang Editor
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Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science Xiao-Feng Zhang Editor - nuovo libro

ISBN: 9783642087189

Transmission electron microscopy (TEM) is now recognized as a crucial tool in materials science. This book, authored by a team of expert Chinese and international authors, covers many asp… Altro …

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Progress in Transmission Electron Microscopy 2 Applications in Materials Science - Zhang, Ze (Herausgeber); Zhang, Xiao-Feng (Herausgeber)
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Zhang, Ze (Herausgeber); Zhang, Xiao-Feng (Herausgeber):
Progress in Transmission Electron Microscopy 2 Applications in Materials Science - edizione con copertina flessibile

2010, ISBN: 3642087183

edizione con copertina rigida

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2001 Kartoniert / Broschiert Wissenschaftliche Standards, Normung usw., Nanotechnologie, Materialwissenschaft, mit Schutzumschlag 11, [PU:Springer… Altro …

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Xiao-Feng Zhang; Ze Zhang:
Progress in Transmission Electron Microscopy 2 - Prima edizione

2010, ISBN: 9783642087189

edizione con copertina flessibile

Applications in Materials Science, Buch, Softcover, Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2001, [PU: Springer Berlin], Springer Berlin, 2010

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Dati bibliografici del miglior libro corrispondente

Dettagli del libro
Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science Xiao-Feng Zhang Editor

Transmission electron microscopy (TEM) is now recognized as a crucial tool in materials science. This book, authored by a team of expert Chinese and international authors, covers many aspects of modern electron microscopy, from the architecture of novel electron microscopes, advanced theories and techniques in TEM and sample preparation, to a variety of hands-on examples of TEM applications. Volume II illustrates the important role that TEM is playing in the development and characterization of advanced materials, including nanostructures, interfacial structures, defects, and macromolecular complexes.

Informazioni dettagliate del libro - Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science Xiao-Feng Zhang Editor


EAN (ISBN-13): 9783642087189
ISBN (ISBN-10): 3642087183
Copertina rigida
Copertina flessibile
Anno di pubblicazione: 2010
Editore: Springer Berlin Heidelberg Core >1 >T
328 Pagine
Peso: 0,497 kg
Lingua: eng/Englisch

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ISBN/EAN: 9783642087189

ISBN - Stili di scrittura alternativi:
3-642-08718-3, 978-3-642-08718-9
Stili di scrittura alternativi e concetti di ricerca simili:
Autore del libro : zhang xiao, zhang feng
Titolo del libro: progress materials science, transmission, electron microscopy, surface science series


Dati dell'editore

Autore: Xiao-Feng Zhang; Ze Zhang
Titolo: Springer Series in Surface Sciences; Progress in Transmission Electron Microscopy 2 - Applications in Materials Science
Editore: Springer; Springer Berlin
307 Pagine
Anno di pubblicazione: 2010-10-19
Berlin; Heidelberg; DE
Stampato / Fatto in
Peso: 0,499 kg
Lingua: Inglese
106,99 € (DE)
109,99 € (AT)
118,00 CHF (CH)
POD
XIV, 307 p.

BC; Surfaces and Interfaces, Thin Films; Hardcover, Softcover / Technik/Maschinenbau, Fertigungstechnik; Materialwissenschaft; Verstehen; Measurement Science and Instrumentation; Nanotechnology; Characterization and Evaluation of Materials; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Measurement Science and Instrumentation; Nanotechnology; Characterization and Analytical Technique; Wissenschaftliche Standards, Normung usw. Nanotechnologie; Werkstoffprüfung; BB

Transmission electron microscopy (TEM) is now recognized as a crucial tool in materials science. This book, authored by a team of expert Chinese and international authors, covers many aspects of modern electron microscopy, from the architecture of novel electron microscopes, advanced theories and techniques in TEM and sample preparation, to a variety of hands-on examples of TEM applications. Volume II illustrates the important role that TEM is playing in the development and characterization of advanced materials, including nanostructures, interfacial structures, defects, and macromolecular complexes.

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