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2012, ISBN: 9783642297960
Physik, Eigenschaften, Zuverlässigkeit, eBooks, eBook Download (PDF), Auflage, [PU: Springer-Verlag], Seiten: 383, [ED: 2], Springer-Verlag, 2012
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Halbleiter-Leistungsbauelemente: Physik, Eigenschaften, Zuverlässigkeit Josef Lutz Author - nuovo libro
ISBN: 9783642297960
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Dati bibliografici del miglior libro corrispondente
Informazioni dettagliate del libro - Halbleiter-Leistungsbauelemente: Physik, Eigenschaften, Zuverlässigkeit Josef Lutz Author
EAN (ISBN-13): 9783642297960
ISBN (ISBN-10): 364229796X
Anno di pubblicazione: 2012
Editore: Springer Berlin Heidelberg Digital >16
380 Pagine
Lingua: ger/Deutsch
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ISBN/EAN: 9783642297960
ISBN - Stili di scrittura alternativi:
3-642-29796-X, 978-3-642-29796-0
Stili di scrittura alternativi e concetti di ricerca simili:
Autore del libro : lutz, josef, lütz
Titolo del libro: halbleiter leistungsbauelemente, zuverlässigkeit, halb, physik, leistung
Dati dell'editore
Autore: Josef Lutz
Titolo: Halbleiter-Leistungsbauelemente - Physik, Eigenschaften, Zuverlässigkeit
Editore: Springer; Springer Berlin
383 Pagine
Anno di pubblicazione: 2012-11-07
Berlin; Heidelberg; DE
Lingua: Tedesco
89,99 € (DE)
89,99 € (AT)
106,00 CHF (CH)
Available
XXII, 383 S. 298 Abb.
EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; Bipolare Transistoren; Halbleiter; Halbleiterphysik; Halbleiterphysikalische Grundlagen; Herstellungstechnologie; IGBTs; MOS Transistoren; MOSFET; Robustheit; Schnelle Dioden; Schottky-Dioden; SchwingungseffekteSiC Bauelemente; Superjunction Bauelemente; Systemintegration; Thyristoren; Zuverlässigkeit; pn-Übergänge; A; Electronic Circuits and Systems; Electrical Power Engineering; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Engineering; Elektrotechnik; Elektronik; BB
Die 2. bearbeitete Auflage stellt einige Zusammenhänge bei Transistoren und Thyristoren präziser dar. Sie berücksichtigt die technischen Neuerungen und Entwicklungen seit Erscheinen der 1. Auflage.Ergänzt wurde die Beschreibung einiger Bauelemente aus SiC, der Weiterentwicklungen bei IGBTs sowie weitere Erkenntnisse zur Robustheit von Leistungsdioden.Praxisbezogene Behandlung der Bauelemente der Leistungselektronik Hilft bei der Analyse der Fehlerursachen Aktualisiert auf den neuesten Stand der Technik Includes supplementary material: sn.pub/extras Includes supplementary material: sn.pub/extras
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