Experimentelle Und Theoretische Untersuchungen Der Degradation Von Ultradunnen Mos-Gatedielektrika - edizione con copertina flessibile
2011, ISBN: 3832527915
Paperback, [EAN: 9783832527914], Logos Verlag Berlin, Logos Verlag Berlin, Book, [PU: Logos Verlag Berlin], 2011-02-23, Logos Verlag Berlin, Diese Arbeit beschreibt experimentelle und ato… Altro …
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Experimentelle und theoretische Untersuchungen der Degradation von ultradünnen MOS-Gatedielektrika - edizione con copertina flessibile
ISBN: 3832527915
Taschenbuch, [EAN: 9783832527914], Logos Berlin, Logos Berlin, Book, [PU: Logos Berlin], Logos Berlin, 295206, Hilfsmittel, 290518, Chemie, 288100, Fachbücher, 541686, Kategorien, 186606,… Altro …
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ISBN: 3832527915
Taschenbuch, [EAN: 9783832527914], Logos Berlin, Logos Berlin, Book, [PU: Logos Berlin], Logos Berlin, 290520, Ingenieurwissenschaften, 292377, Bauwesen, 290873, Chemie, 560290, Druckluft… Altro …
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Experimentelle Und Theoretische Untersuchungen Der Degradation Von Ultradunnen Mos-Gatedielektrika (German Edition) - edizione con copertina flessibile
ISBN: 3832527915
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Experimentelle und theoretische Untersuchungen der Degradation von ultradünnen MOS-Gatedielektrika - edizione con copertina flessibile
2011, ISBN: 9783832527914
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Kristian Hafkemeyer:
Experimentelle und theoretische Untersuchungen der Degradation von ultradünnen MOS-Gatedielektrika - edizione con copertina flessibileISBN: 3832527915
Taschenbuch, [EAN: 9783832527914], Logos Berlin, Logos Berlin, Book, [PU: Logos Berlin], Logos Berlin, 295206, Hilfsmittel, 290518, Chemie, 288100, Fachbücher, 541686, Kategorien, 186606,… Altro …
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Experimentelle und theoretische Untersuchungen der Degradation von ultradünnen MOS-Gatedielektrika - edizione con copertina flessibile
2011, ISBN: 9783832527914
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Dati bibliografici del miglior libro corrispondente
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Informazioni dettagliate del libro - Experimentelle und theoretische Untersuchungen der Degradation von ultradünnen MOS-Gatedielektrika
EAN (ISBN-13): 9783832527914
ISBN (ISBN-10): 3832527915
Copertina flessibile
Anno di pubblicazione: 2011
Editore: Logos Verlag Berlin
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Pagina di dettaglio ultima modifica in 2018-03-25T17:27:42+02:00 (Rome)
ISBN/EAN: 9783832527914
ISBN - Stili di scrittura alternativi:
3-8325-2791-5, 978-3-8325-2791-4
Stili di scrittura alternativi e concetti di ricerca simili:
Autore del libro : hafkemeyer
Dati dell'editore
Autore: Kristian Hafkemeyer
Titolo: Experimentelle und theoretische Untersuchungen der Degradation von ultradünnen MOS-Gatedielektrika
Editore: Logos Berlin
Anno di pubblicazione: 2011-02-23
Lingua: Tedesco
36,50 € (DE)
37,50 € (AT)
Not available, publisher indicates OP
BC; PB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Elektronik, Nachrichtentechnik; Elektrotechnik, Elektronik; Degradation; MOS-FET; Gatedielektrika; CMOS; Matrix-Teststrukturen; 2010; TU Hamburg-Harburg
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