2010, ISBN: 8320617758, Lieferbar binnen 4-6 Wochen Costi di spedizione:Versandkostenfrei innerhalb der BRD

Internationaler Buchtitel. Nicht in deutscher Sprache! Sprachcode: pol. Verlag: Wydawnictwa Komunikacji i Lacznosci WKL, 444 Seiten, L=238mm, B=165mm, Gew.=720gr, 1. Auflage. [GR: 27230 -… Altro …

Internationaler Buchtitel. Nicht in deutscher Sprache! Sprachcode: pol. Verlag: Wydawnictwa Komunikacji i Lacznosci WKL, 444 Seiten, L=238mm, B=165mm, Gew.=720gr, 1. Auflage. [GR: 27230 - TB/Bildungswesen (Schule/Hochschule)], [SW: - Computers / Systems Architecture / General], Kartoniert/Broschiert, Klappentext: Podrecznik poswiecony wspolczesnym przetwornikom analogowo-cyfrowym (A/C) i cyfrowo-analogowym (C/A). Zawiera wszystkie informacje niezbedne do pelnego zrozumienia zagadnien probkowania, kwantyzacji oraz szumu w systemach z danymi sprobkowanymi, parametrow charakteryzujacych poszczegolne przetworniki, metod stosowanych w przetwornikach pracujacych zgodnie z czestotliwoscia Nyquista i analizy ich wlasciwosci, dzialania przetwornikow z nadprobkowaniem i sigma-delta wraz z przykladami, jak rowniez metod korekcji i kalibracji cyfrowej, testowania i opisu sposobow przetwarzania danych przy testowaniu i pomiarach parametrow. Odbiorcy ksiazki: studenci wydzialow elektroniki i technik informacyjnych wyzszych uczelni technicznych, inzynierowie elektronicy oraz wszyscy zainteresowani wspolczesnymi przetwornikami A/C i C/A. [Ausgabe: 10001] Podrecznik poswiecony wspolczesnym przetwornikom analogowo-cyfrowym (A/C) i cyfrowo-analogowym (C/A). Zawiera wszystkie informacje niezbedne do pelnego zrozumienia zagadnien probkowania, kwantyzacji oraz szumu w systemach z danymi sprobkowanymi, parametrow charakteryzujacych poszczegolne przetworniki, metod stosowanych w przetwornikach pracujacych zgodnie z czestotliwoscia Nyquista i analizy ich wlasciwosci, dzialania przetwornikow z nadprobkowaniem i sigma-delta wraz z przykladami, jak rowniez metod korekcji i kalibracji cyfrowej, testowania i opisu sposobow przetwarzania danych przy testowaniu i pomiarach parametrow. Odbiorcy ksiazki: studenci wydzialow elektroniki i technik informacyjnych wyzszych uczelni technicznych, inzynierowie elektronicy oraz wszyscy zainteresowani wspolczesnymi przetwornikami A/C i C/A.<